如果電子產品在 burst 和 ESD 脈沖測試中發生功能失效,那么被測設備(EUT)必須進行整改。
E1 開發系統被用于快速和精準的確定 EUT 內功能失效的原因,這允許用戶直接在PCB板上進行故障定位。
SGZ 21 burst 發生器可以產生測試脈沖,這些脈沖通過導線連接或通過磁場或電場源被耦合到 EUT 中,在測試過程中,可以實時監控工作信號。
* Burst Generator SGZ 21
* EMC Sensor S31 with OFP
* Magnetic field probe MS 02
* Magnetic field source BS 02
* Magnetic field source BS 04 DB
* Magnetic field source BS 05 D
* Magnetic field source BS 05 DU
* E-field source ES 00
* E-field source ES 01
* E-field source ES 02
* E-field source ES 05 D
* E-Field Source ES 08 D
* Accessories
* Instruction
* Case with foamed plastic inset
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