IC S 103集成電路電磁干擾掃描系統

特點：
　　IC Scanner（集成電路電磁場掃描系統）能使用ICR近場探頭，對集成電路進行精確的電磁場掃描測量。探頭可以在集成電路表面進行三維移動并可以沿z軸旋轉。掃描器的頂部是敞開的，允許用戶使用顯微鏡觀察探頭位置。

應用：
　*　使用IC-芯片近場探頭掃描集成電路的表面電磁場分布
　*　在新IC設計階段使用
　*　調試IC內部的電場和磁場耦合
　*　對IC的引腳分配進行最優化設計

主要技術指標：